Anil K. Jain (kompyuter olimi, 1948 yilda tug'ilgan) - Anil K. Jain (computer scientist, born 1948)

Anil K. Jain (1948 yilda tug'ilgan) - hindu amerikalik kompyutershunos va Kompyuter fanlari va muhandislik kafedrasida universitetning taniqli professori Michigan shtati universiteti, sohalardagi hissalari bilan tanilgan naqshni aniqlash, kompyuterni ko'rish va biometrik tanib olish.^[1][2] Uning asosida Google Scholar profil, u an h-indeks 190 ning,^[3] tomonidan e'lon qilingan so'rovda aniqlangan kompyuter olimlari orasida eng yuqori ko'rsatkichdir UCLA.^[4]

Biografiya

Hindistonda tug'ilgan Anil K. Jain uni qabul qildi Texnologiya bakalavri dan elektrotexnika sohasida Hindiston Texnologiya Instituti, Kanpur 1969 yilda magistr va doktorlik dissertatsiyalarini Ogayo shtati universiteti mos ravishda 1970 va 1973 yillarda. Jeyn dars bergan Ueyn davlat universiteti 1972 yildan 1974 yilgacha fakultetga qo'shildi Michigan shtati universiteti 1974 yilda, hozirda u universitetning taniqli professori.

Jain an ISI yuqori darajada keltirilgan tadqiqotchi. 2016 yilda u Milliy muhandislik akademiyasi va Hindiston Milliy muhandislik akademiyasiga "biometriya muhandisligi va amaliyotiga qo'shgan hissasi uchun" saylangan. 2007 yilda u qabul qildi W. Wallace McDowell mukofoti tomonidan taqdirlangan eng yuqori texnik sharaf IEEE Kompyuter Jamiyati, naqshni tanib olish, kompyuterni ko'rish va biometrik tanib olish tizimlari nazariyasi, texnikasi va amaliyotiga o'zining kashshof hissasi uchun. U ko'plab boshqa mukofotlarga sazovor bo'ldi, shu jumladan Guggenxaym stipendiyasi, Gumboldt tadqiqot mukofoti, IAPR Per Devijver mukofoti, Fulbrayt stipendiyasi, IEEE Computer Society Technical Achievement mukofoti, IAPR King-Sun Fu mukofoti va IEEE ICDM Research Contribution mukofoti. U a'zosi ACM, IEEE, AAAS,^[5] IAPR va SPIE. Shuningdek, u eng yaxshi qog'oz mukofotlarini oldi IEEE-ning asab tizimidagi operatsiyalari (1996) va Naqshni aniqlash jurnal (1987, 1991 va 2005).

U a'zosi sifatida xizmat qilgan AQSh Milliy akademiyalari panellar yoqilgan Axborot texnologiyalari, Qaerda Biometriya va Improvised portlovchi qurilmalar (IED). Shuningdek, u Mudofaa fanlari kengashi, Sud ekspertizasi standartlari kengashi va AAAS Latent Fingerprint Ishchi guruhi a'zosi sifatida ishlagan. 2019 yilda u chet el a'zosi etib saylandi Xitoy Fanlar akademiyasi^[6]

Tanlangan nashrlar

Kitoblar

• 1988. Ma'lumotlarni klasterlash algoritmlari. Richard C. Dubes bilan. Prentice Hall.
• 1993. Markovning tasodifiy maydonlari: nazariya va qo'llanmalar. Rama Chellappa nashrlari bilan. Akademik matbuot.
• 1999. Biometriya: Tarmoqli jamiyatda shaxsiy identifikatsiya. Rud M. Bolle va Sharat Pankanti nashrlari bilan. Springer.
• 2003. Barmoq izlarini aniqlash bo'yicha qo'llanma. (2008 yil 2-nashr). D. Maio, D. Maltoni, S. Prabhakar bilan. Springer.
• 2005. Yuzni tanish bo'yicha qo'llanma. (2-nashr 2011). S. Z. Li bilan ed. Springer.
• 2006. Multibiometrik qo'llanma. A. Ross va K. Nandakumar bilan. Springer.
• 2007. Biometriya bo'yicha qo'llanma. P. Flynn va A. Ross nashrlari bilan. Springer.
• 2011. Biometrikaga kirish. A. Ross va K. Nandakumar bilan. Springer.
• 2015. Biometriya ensiklopediyasi (ikkinchi nashr). Sten Li bilan. Springer.

Tadqiqot maqolalari

• Kross, Jorj R. va Anil K. Jain. "Markov tasodifiy maydon to'qimalarining modellari ". Naqshli tahlil va mashina intellekti bo'yicha IEEE operatsiyalari (1983): 25-39.
• Jeyn, Anil K. va Farshid Farroxniya. "Gabor filtrlari yordamida nazorat qilinmagan tekstura segmentatsiyasi ". Naqshni aniqlash 24.12 (1991): 1167-1186.
• Jeyn, Anil K. va Duglas Zongker. "Xususiyatni tanlash: baholash, dastur va kichik namunadagi ishlash ". Naqshli tahlil va mashina intellekti bo'yicha IEEE operatsiyalari, 19.2 (1997): 153-158.
• Jeyn Anil K., L Xong, S Pankanti, R Bolle. "Barmoq izlari yordamida shaxsni tasdiqlovchi tizim " IEEE ish yuritish, 85.9 (1997): 1365-1388.
• Xsu, Reyn-Lien, Mohamed Abdel-Mottaleb va Anil K. Jain. "Rangli tasvirlarda yuzni aniqlash ". Naqshli tahlil va mashina intellekti bo'yicha IEEE operatsiyalari, 24.5 (2002): 696-706.
• Figueiredo, Mario A.T. va Anil K. Jain. "Sonli aralash modellarni nazoratsiz o'rganish ". Naqshli tahlil va mashina intellekti bo'yicha IEEE operatsiyalari, 24.3 (2004): 381-396.

So'rov maqolalari

• A.K. Jeyn, J. Mao va M. Mohiuddin. "Sun'iy asab tarmoqlari: o'quv qo'llanma ", IEEE Computer, jild 29.3 (1996), 31-44.
• Jeyn, Anil K., M. Narasimha Murti va Patrik J. Flinn. "Ma'lumotlarni klasterlash: ko'rib chiqish ". ACM hisoblash tadqiqotlari (CSUR) 31.3 (1999): 264-323.
• Jain, Anil K., Robert P. W. Duin va Jianchang Mao. "Statistik namunalarni aniqlash: ko'rib chiqish ". Naqshli tahlil va mashina intellekti bo'yicha IEEE operatsiyalari, 22.1 (2000): 4-37.
• Jeyn, Anil K., Arun Ross va Salil Prabxakar. "Biometrik tanib olishga kirish ". Video texnika uchun sxemalar va tizimlar bo'yicha IEEE operatsiyalari, 14.1 (2004): 4-20.
• Jayn, Anil K. "Biometrik tanib olish: Savol-javob ". Tabiat, Jild 449, 38-40 betlar, 2007 yil sentyabr.
• Jayn, Anil K. "Ma'lumotlarni klasterlash: K-vositalaridan tashqari 50 yil ". Pattern Recognition Letters, Jild 31, № 8, 651-666-betlar, 2010 yil iyun.

Adabiyotlar

Tashqi havolalar

• Anil K. Jain Michigan shtati universitetidagi bosh sahifa
• Biometriya Michigan shtati universitetidagi tadqiqot guruhi