ISO 25178 - ISO 25178 - Wikipedia

Ushbu maqolada a foydalanilgan adabiyotlar ro'yxati, tegishli o'qish yoki tashqi havolalar, ammo uning manbalari noma'lum bo'lib qolmoqda, chunki u etishmayapti satrda keltirilgan. Iltimos yordam bering takomillashtirish tomonidan ushbu maqola tanishtirish aniqroq iqtiboslar. (2009 yil yanvar) (Ushbu shablon xabarini qanday va qachon olib tashlashni bilib oling)

ISO 25178: Geometrik mahsulotning texnik xususiyatlari (GPS) - Yuzaki to'qimalar: areal bu Xalqaro standartlashtirish tashkiloti 3D areal tahliliga oid xalqaro standartlar to'plami sirt to'qimasi.

Standartning tuzilishi

Standartni tashkil etuvchi hujjatlar:

• 1-qism: Sirt to'qimalarining ko'rsatkichi
• 2-qism: atamalar, ta'riflar va sirt to'qimalarining parametrlari
• 3-qism: Spetsifikatsiya operatorlari
• 6-qism: Sirt to'qimasini o'lchash usullarining tasnifi
• 70-qism: Moddiy choralar
• 71-qism: Dasturiy ta'minotni o'lchash standartlari
• 72-qism: XML formatdagi x3p
• 600-qism: Areal-topografiyani o'lchash usullari uchun metrologik tavsiflar
• 601-qism: Kontaktli (stylus) asboblarning nominal xususiyatlari
• 602-qism: Kontakt bo'lmagan (konfokal xromatik prob) asboblarning nominal xususiyatlari
• 603-qism: Kontakt bo'lmagan (faza o'zgaruvchan interferometrik mikroskopiya) asboblarning nominal xususiyatlari
• 604-qism: Kontakt bo'lmagan narsalarning nominal xususiyatlari (izchillik bilan skanerlash interferometriyasi ) asboblar
• 605-qism: Kontakt bo'lmagan (nuqtali avtofokusli prob) asboblarning nominal xususiyatlari
• 606-qism: Kontakt bo'lmagan narsalarning nominal xususiyatlari (fokusning o'zgarishi ) asboblar
• 607-qism: Kontakt bo'lmagan narsalarning nominal xususiyatlari (konfokal mikroskopiya ) asboblar
• 700-qism: Yuzaki to'qimalarni o'lchash vositalarini kalibrlash [NWIP]
• 701-qism: Kontaktli (stylus) asboblarni kalibrlash va o'lchash standartlari

Kelajakda boshqa hujjatlar taklif qilinishi mumkin, ammo tuzilma deyarli aniqlangan. 600-qism boshqa barcha qismlarda mavjud bo'lgan umumiy qismni almashtiradi. Qayta ko'rib chiqilganda, 60x qismlari faqat asbob texnologiyasiga xos tavsiflarni o'z ichiga oladi.

Yangi xususiyatlar

Bu 3D sirt to'qimalarining spetsifikatsiyasi va o'lchovini hisobga olgan holda birinchi xalqaro standartdir. Xususan, standart 3D sirt to'qimalarining parametrlarini va tegishli spetsifikatsiya operatorlarini belgilaydi. Shuningdek, u amaldagi o'lchov texnologiyalarini tavsiflaydi, kalibrlash usullari, talab qilinadigan jismoniy kalibrlash standartlari va kalibrlash dasturlari bilan birgalikda.

Standartga kiritilgan eng yangi xususiyat - bu odatda sanoat tomonidan qo'llaniladigan, ammo shu paytgacha sifatli auditorlik tekshiruvini qo'llab-quvvatlash uchun standartga ega bo'lmagan kontaktsiz o'lchov usullarini qamrab olishdir. ISO 9000. Birinchi marta standart 3D sirtini keltiradi metrologiya 2D dan so'ng rasmiy domenga usullar profilometrik 30 yildan ortiq vaqt davomida standartlarga bo'ysungan usullar. Xuddi shu narsa kontaktni o'lchash bilan cheklanmagan (olmosli nuqta bilan) o'lchash texnologiyalariga ham tegishli qalam ), shuningdek optik bo'lishi mumkin, masalan rangli konfokal o'lchagichlar va interferometrik mikroskoplar.

Yangi ta'riflar

ISO 25178 standarti TC213 tomonidan birinchi navbatda tabiatning ichki jihatdan 3D ekanligi printsipiga asoslanib, sirt to'qimalarining asoslarini qayta aniqlashni ta'minlaydi. Kelgusida olib boriladigan ishlar ushbu yangi tushunchalarni 2D profilometrik sirt to'qimalarining tahlili sohasida kengaytirishi va barcha sirt to'qimalarining barcha standartlarini qayta ko'rib chiqishni talab qilishi kutilmoqda (ISO 4287, ISO 4288, ISO 1302, ISO 11562, ISO 12085, ISO 13565, va boshqalar.)

Yangi lug'at kiritildi:

• S filtri: sirtdagi eng kichik shkalali elementlarni (yoki chiziqli filtr uchun eng qisqa to'lqin uzunligini) yo'q qiladigan filtr
• L filtri: sirtdagi eng katta shkalali elementlarni (yoki chiziqli filtr uchun eng uzun to'lqin uzunligini) yo'q qiladigan filtr
• F operatori: nominal shaklni bostiruvchi operator.
• Birlamchi sirt: S filtrlashdan keyin olingan sirt.
• S-F yuzasi: birlamchi yuzaga F operatorini qo'llaganidan keyin olingan sirt.
• S-L yuzasi: S-F yuzasiga L filtrini qo'llaganidan keyin olingan sirt.
• Nesting indeks: chiziqli filtrning kesilgan to'lqin uzunligiga yoki morfologik filtrning tuzilish elementi miqyosiga mos keladigan indeks. 25178 yilgacha, masalan, sohaga xos taksonomiyalar pürüzlülük va boshqalar to'lqinlanish "masshtabning cheklangan yuzasi" degan umumiy tushunchalar bilan va "kesish indekslari" bilan almashtiriladi.

Mavjud yangi filtrlar qatoriga kiritilgan texnik tavsiflarda tasvirlangan ISO 16610. Ushbu filtrlarga quyidagilar kiradi: Gauss filtri, spline filtri, mustahkam filtrlar, morfologik filtrlar, to'lqinli filtrlar, kaskadli filtrlar va boshqalar.

Parametrlar

Umumiyliklar

3D sirt yuzasi to'qimalarining parametrlari katta S (yoki V) harfi bilan yoziladi, so'ngra bir yoki ikkita kichik harflarning qo'shimchasi qo'shiladi. Ular butun sirt bo'yicha hisoblab chiqiladi va bundan tashqari, 2D parametrlari uchun bo'lgani kabi, bir qator tayanch uzunliklari bo'yicha hisoblangan o'rtacha hisob-kitoblar bilan. 2D nomlash konventsiyalaridan farqli o'laroq, 3D parametr nomi filtrlash kontekstini aks ettirmaydi. Masalan, Sa har doim sirtdan qat'i nazar paydo bo'ladi, 2D da esa mavjud Pa, Ra yoki Va profilning asosiy, pürüzlülük yoki to'lqinli profil ekanligiga qarab.

Balandlik parametrlari

Ushbu parametrlar faqat z o'qi bo'ylab balandlik qiymatlarining statistik taqsimlanishini o'z ichiga oladi.

Fazoviy parametrlar

Ushbu parametrlar ma'lumotlarning fazoviy davriyligini, xususan uning yo'nalishini o'z ichiga oladi.

Gibrid parametrlar

Ushbu parametrlar ma'lumotlarning fazoviy shakli bilan bog'liq.

Funktsiyalar va tegishli parametrlar

Ushbu parametrlar material nisbati egri chizig'idan hisoblanadi (Abbott-Firestone egri chizig'i ).

Segmentatsiya bilan bog'liq parametrlar

Bular xususiyat parametrlari a dan kelib chiqqan segmentatsiya yuzaning ichiga motiflar (dalalar va tepaliklar). Segmentatsiya a yordamida amalga oshiriladi suv havzasi usuli.

Dasturiy ta'minot

Bir nechta kompaniyalar konsortsiumi 2008 yilda 3D sirt teksturasi parametrlarini bepul amalga oshirish bo'yicha ish boshladi. OpenGPS deb nomlangan konsortsium[1] Keyinchalik o'z kuchlarini ISO standarti ISO 25178-72 ostida nashr etilgan XML fayl formatiga (X3P) yo'naltirdi, bir nechta tijorat paketlari ISO 25178 da belgilangan parametrlarning bir qismini yoki barchasini ta'minlaydi, masalan. Tog'lar xaritasi Digital Surf-dan, Image Metrology-dan SPIP[2] shuningdek, ochiq manbali Gwyddion.

Asboblar

Standartning 6-qismida uchta sirt to'qimasini o'lchash uchun ishlatiladigan texnologiyalar uch oilaga bo'linadi:

1. Topografik asboblar: kontaktli va kontaktsiz 3D profilometrlar, interferometrik va konfokal mikroskoplar, tuzilgan yorug'lik proektorlari, stereoskopik mikroskoplar va boshqalar.
2. Profilometrik asboblar: kontaktli va kontaktsiz 2D profilometrlar, chiziqli triangulyatsion lazerlar va boshqalar.
3. Tomonidan ishlaydigan asboblar integratsiya: pnevmatik o'lchov, sig'imli, tomonidan optik diffuziya, va boshqalar.

va ushbu texnologiyalarning har birini belgilaydi.

Keyinchalik, ushbu standartlarning bir nechtasini batafsil o'rganib chiqadi va ularning har biriga ikkita hujjat ajratadi:

• 6xx qism: asbobning nominal xususiyatlari
• 7xx qism: asbobni kalibrlash

Profilometr bilan bog'laning

601 va 701 qismlari kontaktli profilometrni tavsiflaydi, olmosli nuqta yordamida sirtni lateral skanerlash moslamasi yordamida o'lchaydi.

Xromatik konfokal o'lchagich

602-bo'limda bitta nuqta oq nurli kromatik konfokal sensorni o'z ichiga olgan ushbu turdagi kontaktsiz profilometr tasvirlangan. Amaliyot printsipi oq yorug'lik manbasini optik o'qi bo'ylab, konfokal moslama orqali xromatik tarqalishiga va sirt ustida joylashgan to'lqin uzunligini aniqlashga asoslanadi. spektrometr.

Uyg'unlikni skanerlash interferometriyasi

604-qism optik sirtni o'lchash usullarining sinfini tavsiflaydi, bu erda optik yo'l uzunligini skanerlash paytida interferentsiya chekkalarini lokalizatsiyasi topografiya, shaffof plyonka tuzilishi va optik xususiyatlar kabi sirt xususiyatlarini aniqlash uchun vosita beradi. Texnika spektral keng polosali, ko'rinadigan manbalardan (oq nurdan) foydalanadigan asboblarni o'z ichiga oladi. CSI chekka lokalizatsiyasini yakka o'zi yoki interferentsiya chekka fazasi bilan birgalikda ishlatadi.

Fokusning o'zgarishi

606-qism ushbu turdagi kontaktsiz arealga asoslangan usulni tavsiflaydi. Ishlash printsipi cheklangan maydon chuqurligi va CCD kamerasiga ega mikroskop optikasiga asoslangan. Vertikal yo'nalishda skanerlashda har xil fokusli bir nechta rasm yig'iladi. Keyinchalik, bu ma'lumotlar pürüzlülüğü o'lchash uchun sirt ma'lumotlar to'plamini hisoblash uchun ishlatiladi.

Shuningdek qarang

• Yuzaki pürüzlülük
• Dalgalanma
• Yuzaki metrologiya
• Tog'lar xaritasi: sirt to'qimalarini tahlil qilish dasturi
• ISO 16610: sirt to'qimalariga mo'ljallangan filtrlar

Adabiyotlar

• ISO veb-saytida ISO 25178
• Yuzaki metrologiya uchun yangi 3D parametrlar va filtrlash texnikasi, Fransua Blateyron, Sifat jurnali Oq qog'oz
• ISO / TS 16610-1: Geometrik mahsulotlar (GPS): Filtrlash - 1-qism: Umumiy ma'lumot va asosiy tushunchalar
• ISO / TS 14406: Geometrik mahsulot xususiyatlari (GPS): Ekstraksiya
• Blateyron, F. (2013). Maydon maydonlarining parametrlari. Yuzaki sirt to'qimalarining xarakteristikasi. R. Lich, Springer Berlin Heidelberg: 15-43.
• de Groot, P. J. (2014). Sirt shakli va teksturasini o'lchash uchun optik asboblar spetsifikatsiyasida yutuqlar. Proc. SPIE. 9110: 91100M-91101-91112.
• Leach, R. K., Ed. (2013). Yuzaki sirt to'qimalarining xarakteristikasi. Geydelberg, Springer